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IMAGE8000.DHV
IMAGE2000.DA Ⅱ
ラベルマーカー L-20
ペンマーカー M-65S
ALTIS-RP
APIS-4000F
APIS-4000B
IMAGE7000.PG2/4/4W
IMAGE7000.PES(W)
IMAGE3000.RDS/RDL
IMAGE3000.CDM
STシリーズ
TM-200L
表面検査装置 | IMAGE2000.DA 表面検査装置 | IMAGE2000.DAⅡ/PCWⅡ
 
ローコスト アナログカメラ対応
従来型のアナログカメラ対応モデルで、中・低速ラインでは高いコストパフォーマンスを発揮します。
クロック カメラ画素数 接 続
10MHz 1024bit 2048bit 5000bit 5150bit 30m以下ならエクステンダーなしで信号伝送可能な為、ローコストにシステム構築が可能です。
7450bit      
20MHz 1024bit 2048bit 7450bit 10680bit
1024bit 2048bit 7450bit 10680bit
40MHz 2048bit 5150bit 7450bit 10680bit
 
デジタル高機能演算
階調比較処理、点、画、線、3ラインの並列パイプライン演算処理、2次元デジタル演算機能を搭載しました。
 
欠陥評価パラメーター
3次評価方式による安定検出が可能で、欠点を濃度(レベル)分別→幅分別→形状分別の3モード評価にて簡易分別します。
 
リアルタイム表示機能
 
検査幅設定 検査幅設定画面 欠陥情報マップ
   
  • 製品及び左右個別の不感帯設定が可能です。

  • 検査中は欠陥の発生分布、個別欠陥情報、直近9欠陥の欠陥画像が1画面で
    確認できます。

 
品種登録
 
品種登録画面 品種登録画面
  • 品種登録数は最大120品種まで登録可能です。

  • 検出感度、サイズなど各種設定を製品の種類別に登録できます。

  • 検査開始時は登録された品種を選択するだけで適切な検査条件が設定されます。

 
情報管理
 
ロットリスト 検査幅設定画面 欠陥マップ 検査幅設定画面
   
欠陥レポート 欠陥情報マップ画面 画像リスト 欠陥情報マップ画面
 
  • ロット検索、各種情報の印刷、データー保存、検査結果反転機能など多くの
    情報管理が可能です。

  • 選択したロットの情報をUSBメディアに保存し、他のPCにて利用することが
    可能です。

  • 選択したロットの欠陥マップ、欠陥リスト、画像リストが表示できます。

  • 欠陥の発生量をグラフで確認できます(集計方法指定可能:オプション)。

  • 欠陥画像の一覧表示で、欠陥形状などの確認、比較が可能です。

   
 
校正モード
 
校正モード 検査幅設定画面 波形モニター 検査幅設定画面
   
  • サンプルを使用した品種条件の検証、距離カウント機能の確認や自動調光の
    テストなどが行えます。

  • 画面表示でカメラ信号の状態確認(電圧・検査範囲など)が行えます。

 
 
濃度計測
 
原画像モード 検査幅設定画面 二値化画像モード 検査幅設定画面
   
  • 濃度計測を使用した解析(画素数、直径、信号レベル)は原画像による解析と
    論理2値化画像による解析が可能です。

 
 
 
 
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