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IMAGE8000.DHV
IMAGE2000.DA Ⅱ
ラベルマーカー L-20
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ALTIS-RP
APIS-4000F
APIS-4000B
IMAGE7000.PG2/4/4W
IMAGE7000.PES(W)
IMAGE3000.RDS/RDL
IMAGE3000.CDM
STシリーズ
TM-200L
カットサンプル欠陥評価装置 | ALTIS-RP カットサンプル欠陥評価装置 | ALTIS-RP
 

カットサンプルにおける表面欠陥の評価検査が
分解能15μmの欠陥マップで簡単に検量・検証可能です。

 
 
用途・特徴
品質評価に不可欠なオフライン表面欠陥検量のエキスパート装置として
ご利用頂けます。
   
 
 
装置構成

本装置はユーザー様にて設置接続を行って頂く装置です。
水平な台の上に検査装置とPC本体を設置し、検査装置とPC
本体を2本のケーブルで接続するだけで設置完了です。

 
 
ラインナップ
 

ALTISには投光器の構成により3つのタイプがあります。
検査対象物・検査対象欠陥により選択し、購入時にご指定ください。

※ ALTIS-Pはオプションでフィッシュアイ検査モデルにカスタマイズすることが出来ます。

 
 
各種画面
検査画面
カットサンプルをスキャンし欠陥を検出します。 検査結果は下の4つの画面で確認できます。
 
検査結果画面(検出マップ表示) 検査結果画面(原画像表示)
 
検査結果画面(欠陥リスト表示) 検査結果画面(検出画像一覧表示)
 
情報管理画面(結果データ一覧)  
過去に行った検査のデータを検査の際と
同じ画面構成で確認できます。
過去の検査結果の中から任意のデータを
選択し、USBメモリへCSV形式で
保存できます。
 
情報管理画面(検出マップ表示/原画像表示/欠陥リスト表示/検出画像一覧表示)
検査時と同じ4つの画面で過去の検査結果を確認できます。
 
濃度計測画面

欠陥画像の濃度計測画面が呼び出せます。
濃度計測画面では欠陥の階調レベルや
サイズなどの解析が行えます。

 
検査条件設定画面
品種登録は最大100品種まで登録可能
です。
検出感度、サイズなど各種設定を製品の
種類別に登録できます。 検査開始時は
登録された品種を選択するだけで適切な
検査条件が設定されます。
 
波形モニター
検出器(カメラ・投光器)の調整は
波形モニター機能を使用して行えます。
 
※各画面表示の言語は装置起動時に日本語・韓国語・英語の中から選択できます。
 
 
仕様
分解能 幅方向 15μm × 長さ方向 15μm
カメラ CCDラインセンサーカメラ(モノクロ) 10680画素 / 80MHz
投光器 LEDライン照明 (下記より選択できます。)
・ALTIS-RP  (反射・透過)
・ALTIS-R   (反射)
・ALTIS-P   (透過)
サンプルサイズ サイズ: 210mm × 297mm (A4サイズ)
厚み:  0.05mm ~ max. 1.0mm
検出判定 明・暗 階調、幅・長さ・面積
移動スピード テーブル移動スピード  6 m/min.
検査時間 約 15 秒 (1枚当たり)
検査範囲 取込範囲: 160 mm × 230 mm ( 10680 pix. × 15333 pix. )
計測範囲: 150 mm × 220 mm ( 10000 pix. × 14667 pix. )
画像ファイル保存容量: 386 MB
画像ファイル保存枚数: 最大 800 枚
電源 AC100~220V 50/60Hz
拡張バス: PCI、 PCI-Express(x4)
HDD容量: 500GB
 
 
外形図
 
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