Titol ニュース | 2017

 
2017年10月 1日
表面欠陥評価装置「ALTIS-RP」販売開始のおしらせ
 
A4サイズにカットされたサンプルの欠陥を15μmの解像度で検査・評価可能な、卓上型表面欠陥評価装置
「ALTIS-RP」を2017年10月1日より販売開始しましたことをお知らせ致します。

製品の詳細につきましては
個別製品ページ「ALTIS-RP」 をご参照ください。
 
 
 
2017年 2月20日
「Convertech JAPAN 2017」ご来場御礼
 
過日弊社が出展いたしました「ConvertechJAPAN2017」開催期間中にご来場頂き、
誠にありがとうございました。
今後も皆様の品質管理に少しでもお役に立てる様、頑張ってまいります。

展示会場ではご満足頂ける説明が出来ておりましたでしょうか。
説明不足やご質問など有りましたら、どうぞ、ご遠慮なくお問い合わせ頂けます様、
宜しくお願い申し上げます。

ブース

ALTIS-RP

 
 
 
2017年 1月18日
「Convertech JAPAN 2017」出展のお知らせ
 
弊社は「Convertech JAPAN 2017」へ出展いたします。


[開 催 日]    2017年2月15日(水)~17日(金)
[開催時間]   10:00~17:00
[ 会 場 ]    東京ビックサイト 
[弊社小間]   東3ホール 3P-18

《出展機器》
1.デジタル高速表面検査装置  IMAGE8000.DHV
2.ピンホール検査装置  APIS-4000F(B)
3.ペレット検査装置  IMAGE7000.PE
4.小型、高速ラベルマーカー  L-20
5.小型、マジックマーカー  M-65S
6.評価検査装置  New ALTIS-RP