ニュース | 2017
2017年10月 1日
表面欠陥評価装置「ＡＬＴＩＳ－ＲＰ」販売開始のおしらせ
A4サイズにカットされたサンプルの欠陥を15μmの解像度で検査・評価可能な、卓上型表面欠陥評価装置
「ALTIS-RP」を2017年10月1日より販売開始しましたことをお知らせ致します。
製品の詳細につきましては
個別製品ページ「ＡＬＴＩＳ－ＲＰ」
をご参照ください。
2017年 2月20日
「Convertech JAPAN 2017」ご来場御礼
過日弊社が出展いたしました「ConvertechJAPAN2017」開催期間中にご来場頂き、
誠にありがとうございました。
今後も皆様の品質管理に少しでもお役に立てる様、頑張ってまいります。
展示会場ではご満足頂ける説明が出来ておりましたでしょうか。
説明不足やご質問など有りましたら、どうぞ、ご遠慮なくお問い合わせ頂けます様、
宜しくお願い申し上げます。
ブース
ALTIS-RP
2017年 1月18日
「Convertech JAPAN 2017」出展のお知らせ
弊社は「Convertech JAPAN 2017」へ出展いたします。
［開 催 日］ ２０１７年２月１５日（水）～１７日（金）
［開催時間］ １０：００～１７：００
［ 会 場 ］ 東京ビックサイト
［弊社小間］ 東３ホール ３Ｐ－１８
《出展機器》
１．デジタル高速表面検査装置 ＩＭＡＧＥ８０００．ＤＨＶ
２．ピンホール検査装置 ＡＰＩＳ－４０００Ｆ（Ｂ）
３．ペレット検査装置 ＩＭＡＧＥ７０００．ＰＥ
４．小型、高速ラベルマーカー Ｌ－２０
５．小型、マジックマーカー Ｍ－６５Ｓ
６．評価検査装置 Ｎｅｗ ＡＬＴＩＳ－ＲＰ
