株式会社 朝日測器
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2017年10月1日
表面欠陥評価装置「ALTIS-RP」販売開始のおしらせ
 

A4サイズにカットされたサンプルの欠陥を15μmの解像度で検査・評価可能な、卓上型表面欠陥評価装置
「ALTIS-RP」を2017年10月1日より販売開始しましたことをお知らせ致します。

製品の詳細につきましては 個別製品ページ「ALTIS-RP」 をご参照ください。

 
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2017年9月4日
「ラベルマーカー L20」出荷再開のおしらせ
 

「小型ラベルマーカー L20」はご好評により品切れの状態となっておりましたが、
この度(8月より)出荷を再開させて頂きました。

お急ぎのお客様には大変ご迷惑をお掛け致しました。
今後とも、「小型ラベルマーカー L20」を宜しくお願い申し上げます。

 
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2017年4月25日
「ラベルマーカー L20」の納期について
 

弊社製品「 小型ラベルマーカー L20 」につきましては、本年2月の展示会以降、
皆様のご評価を賜り、多数のご注文を頂いておりますこと、厚くお礼申し上げます。

大変申し訳ありませんが、現在、在庫数がご注文に追いつかず、品切れ状態となっております。 急ぎ製作致しておりますが、出荷体制が通常状況に戻るのが7月末以降となる見込です。

お客様に於かれましては、お急ぎのことと、存じ上げますが、
宜しくご理解を賜ります様、お願い申し上げます。

尚、出荷再開の時期につきましては、再度、本ホームページにてご報告させて頂きます。

 
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2017年2月20日
「Convertech JAPAN 2017」ご来場御礼
 

過日弊社が出展いたしました「ConvertechJAPAN2017」開催期間中にご来場頂き、
誠にありがとうございました。
今後も皆様の品質管理に少しでもお役に立てる様、頑張ってまいります。

展示会場ではご満足頂ける説明が出来ておりましたでしょうか。
説明不足やご質問など有りましたら、どうぞ、ご遠慮なくお問い合わせ頂けます様、
宜しくお願い申し上げます。

ブース ALTIS-RP
 
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2017年1月18日
「Convertech JAPAN 2017」出展のお知らせ
 

弊社は「Convertech JAPAN 2017」へ出展いたします。


[開 催 日]    2017年2月15日(水)~17日(金)
[開催時間]   10:00~17:00
[ 会 場 ]    東京ビックサイト 
[弊社小間]   東3ホール 3P-18

《出展機器》
1.デジタル高速表面検査装置  IMAGE8000.DHV
2.ピンホール検査装置  APIS-4000F(B)
3.ペレット検査装置  IMAGE7000.PE
4.小型、高速ラベルマーカー  L-20
5.小型、マジックマーカー  M-65S
6.評価検査装置  New ALTIS-RP

 
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