A4サイズにカットされたサンプルの欠陥を15μmの解像度で検査・評価可能な、卓上型表面欠陥評価装置
「ALTIS-RP」を2017年10月1日より販売開始しましたことをお知らせ致します。

製品の詳細につきましては 個別製品ページ「ＡＬＴＩＳ－ＲＰ」 をご参照ください。

「小型ラベルマーカー　L20」はご好評により品切れの状態となっておりましたが、
この度（８月より）出荷を再開させて頂きました。

お急ぎのお客様には大変ご迷惑をお掛け致しました。
今後とも、「小型ラベルマーカー　L20」を宜しくお願い申し上げます。

弊社製品「 小型ラベルマーカー Ｌ２０ 」につきましては、本年２月の展示会以降、
皆様のご評価を賜り、多数のご注文を頂いておりますこと、厚くお礼申し上げます。

大変申し訳ありませんが、現在、在庫数がご注文に追いつかず、品切れ状態となっております。 急ぎ製作致しておりますが、出荷体制が通常状況に戻るのが７月末以降となる見込です。

お客様に於かれましては、お急ぎのことと、存じ上げますが、
宜しくご理解を賜ります様、お願い申し上げます。

尚、出荷再開の時期につきましては、再度、本ホームページにてご報告させて頂きます。

過日弊社が出展いたしました「ConvertechJAPAN2017」開催期間中にご来場頂き、
誠にありがとうございました。
今後も皆様の品質管理に少しでもお役に立てる様、頑張ってまいります。

展示会場ではご満足頂ける説明が出来ておりましたでしょうか。
説明不足やご質問など有りましたら、どうぞ、ご遠慮なくお問い合わせ頂けます様、
宜しくお願い申し上げます。

弊社は「Convertech JAPAN 2017」へ出展いたします。


［開 催 日］ 　　 ２０１７年２月１５日（水）～１７日（金）
［開催時間］ 　　１０：００～１７：００
［ 会　場 ］ 　　　東京ビックサイト　
［弊社小間］ 　　東３ホール　３Ｐ－１８

《出展機器》
１．デジタル高速表面検査装置　　ＩＭＡＧＥ８０００．ＤＨＶ
２．ピンホール検査装置　　ＡＰＩＳ－４０００Ｆ（Ｂ）
３．ペレット検査装置　　ＩＭＡＧＥ７０００．ＰＥ
４．小型、高速ラベルマーカー　　Ｌ－２０
５．小型、マジックマーカー　　Ｍ－６５Ｓ
６．評価検査装置　　Ｎｅｗ ＡＬＴＩＳ－ＲＰ