株式会社 朝日測器
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2012年12月1日
第4回 高機能フィルム技術展出店のお知らせ
 

「第4回 高機能フィルム技術展」に出展することが決定しました。

【期日】
2013年4月10日(水)~12日(金)

【開催場所】
東京ビッグサイト 東33-17

【出展予定機種】
未定

 
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2012年10月1日
「表面検査装置 IMAGE2000シリーズ」リニューアルのお知らせ
 

表面検査装置 IMAGE2000シリーズをリニューアルしました。

従来の検査装置を、ハード・ソフト共にバージョンアップさせ、2012年10月1日より販売開始致しました。
詳細は、各モデル詳細をご確認下さい。

■IMAGE2000.PCWⅡ(旧IMAGE2000.PCW)
■IMAGE2000.DAⅡ(旧IMAGE)2000.DA)

※旧モデルのメンテナンスにつきましては、従来通り行なって参ります。

 
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